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結構光測量技術

簡要描述:結構光測量技術
使用提前設計好的具有特殊結構的圖案:離散光斑、條紋光、編碼結構光等,將圖案投影到三維空間物體表面上, 使用另外一個相機觀察在三維物理表面成像的畸變情況。

  • 產品品牌:其他品牌
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2022-12-01
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品牌其他品牌價格區間面議
組件類別其他應用領域醫療衛生,環保,化工,電子,綜合

結構光測量技術

使用提前設計好的具有特殊結構的圖案:離散光斑、條紋光、編碼結構光等,將圖案投影到三維空間物體表面上, 使用另外一個相機觀察在三維物理表面成像的畸變情況。觀察到的結構光圖案就會因為物體表面不同的幾何形狀而 產生不同的扭曲變形,而且根據距離的不同而不同,根據已知的結構光圖案及觀察到的變形,就能根據算法計算被 測物的三維形狀及深度信息

線結構光應用場景

小功率字線結構光光源

技術指標


光學參數
波長nm450,520,638,808
功率WS3
扇角°30,45,60,75,90,其他角度可定制
線寬mm1(FWHM)
工作距離mm500~3000
均勻度
75%
直線度
<0.1%
電學參數
輸入電壓VDC5,12
控制模式
TTL外觸發, 高電平開
觸發上升沿US10
響應頻率KHz10
調制占空比
30%
激光防護
ESD, 過壓, 過流保護
其他參數
外形尺寸mmΦ20x60
工作溫度-20-50
儲存溫度-40-80


注1、所有技術指標均為常溫25℃下測量

注2、工作距離處的最佳線寬,測量值為全高半寬(FWHM)

注3、均勻度定義為

注4、直線度定義為

注5、可選擇增加模擬控制模式

高功率字線結構光模塊/系統

SLM系列產品是專為結構光源集成應用而設計的緊湊型結構光模塊,其超高的激光亮度、卓/越的光學性能以及穩定 可靠的結構設計,可滿足各種極限的應用場景。SLS系列集成了驅動電源,24V直流供電,通過TTL觸發信號接口與 相機同步工作。

特征:

1. 峰值功率最高可達45 瓦

2. 80%以上的亮度均勻性

3. 接近衍射極限的線寬特性

4. 最遠可達5米的工作距離

5. IP65 防護等級

應用:

1. 3D 機器視覺

2. 室外工業檢測

3. 軌道交通檢測

4. 公路道路檢測

5. 其他高速檢測場合




SLS-205LS-45
光學參數
波長nm808,915±10
功率W20≤45
扇角°30,45,60,75,90,其他角度可定制
線寬2mm1(FWHM)
工作距離mm500~5000
均勻度3
75%
直線度4
≤0.1%
電學參數
輸入電壓VDC12~24
系統功耗W<50<100
控制模式5
TTL外觸發, 高電平開
觸發上升沿us10
響應頻率KHz30
調制占空比
30%
激光防護
ESD, 過壓, 過流保護
電氣接口
4芯航插 1DC+ 2GND 3TTL+ 4TTL-
其他參數
外形尺寸mm132x84x48162x100x600
工作溫度-20~50
儲存溫度-40~80


結構光測量技術

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